C-SAM J610
大型サンプル計測用 超音波顕微鏡
C-SAM J610は、PCボードなどの大型サンプルや複数のJEDECトレイを一度に計測できるモデルです。
スペック等詳細データのご入り用な方はお問い合わせフォームよりご連絡ください。 |
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