C-SAM J610

大型サンプル計測用 超音波顕微鏡

C-SAM J610は、PCボードなどの大型サンプルや複数のJEDECトレイを一度に計測できるモデルです。
最大スキャンエリアは610mm×610mmで、大型サンプルの透過測定(THRU-Scan)にも対応可能です。

  • 最大スキャンエリア: 610mm×610mm
  • Sonolytics:新オペレーション・インターフェイス
  • Poly Gate:異なる複数の深さを同時にスキャン可能。最大100ゲートの計測が可能。
  • AutoScan(自動測定機能)
  • DIA(良否判定解析ソフト)
  • 内蔵式温水循環システム搭載

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