TDM Table Top

テーブルトップ型
プロジェクション・モアレ式
高精度 反り・変形計測システム

TDM Table Topはリフローやサイクル試験の温度プロファイルを再現して温度毎の反りや変形をミクロン単位で計測できます。
75mm角のエリアの計測が可能で、TDMシリーズで最も省スペースのモデルです。
プリント回路基板(PCB)やBGAのリフロー中の反り計測の他、パワーデバイス、CPUのソケットやコネクターの反り・変形計測にも対応可能です。また、材料の熱膨張係数(CTE)の計測も可能です。

  • 温度レンジ: 室温~+300℃
  • 測定可能エリア: 75mm×75mm
  • 反り(Z)分解能 : 1.5μm
  • 空間分解能(X.Y) : 37.5μm
  • 被写界深度 : ~20mm
  • CTE計測(反りと同時計測可能)
  • JEDEC / JEITA / IPC規格基準

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